公司動態_第(6)頁－深圳市中圖儀器股份有限公司

指示表檢定儀其具體的原理是什么？
2023-02-26 指示表檢定儀顧名思義，就是用來檢定指示表準確度的儀器。如今市面上的指示表檢定儀分為機械式指示表檢定儀和光柵式指示表檢定儀。利用機械傳動系統，將測量桿的直線位移轉變為指針在圓刻度盤上的角位移，并由刻度盤進行讀數的測量器具，稱為指示表。其中，分度值為0.01mm的稱為百分表，分度值為0.001mm的稱為千分表。分為機械式和電子數顯式。測量范圍超過10mm以上的指示表，一般稱為大量程指示表。指示表檢定儀的工作原理：指示表全自動檢定儀采用計量光柵尺作為長度標準。檢定儀接收到檢定軟件的...
說起光學輪廓儀你真的有了解了嗎？
2023-02-18 光學輪廓儀是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。光學輪廓儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進行測試與檢驗的儀器，作為精密測量儀器在汽車制造和鐵路行業的應用十分廣泛。是通過儀器的觸針與被測表面的滑移進行測量的，是接觸測量。其主要優點是可以直接測量某些難以測量到的零件表面，如孔、槽等的表面粗糙度，又能直接按某種評定標準讀數或是描繪出表面輪...
中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡正式上線，圖像形態細節更清晰細微！
2023-02-02 顯微3D測量雙姝，“文”、“武”雙全——中圖顯微家族又一力作上線啦！期期盼盼，中圖儀器耗時數載研制而成的共聚焦顯微鏡在完成多項關鍵技術指標的驗證并得到先期若干客戶及應用場景的檢驗后，終于正式上線啦！繼成功推出SuperViewW系列白光干涉儀，并得到國內數十所高校、科研院所、計量機構單位以及代表著高智能制造水準的光學加工和半導體制造行業企業的認可與廣泛應用之后，中圖儀器正式上線了白光干涉儀的姊妹款儀器——VT6000系列共聚焦顯微鏡，將為國內3D顯微檢測的應用場景提供更全的解...
新年新氣象，再戰新征程！中圖儀器正月初九開工大吉！
2023-01-30 2022年是極不平凡的一年，全國各地的疫情，國際形勢波詭云譎。在企業經營面臨較大困難的背景下，中圖儀器仍然得到了新老客戶和各界朋友的親切關懷和大力支持，公司全體員工在危機中育先機、于變局中開新局，扛住了各種風險，進一步開拓了市場，取得了不錯的成績！我們向每一位關注、支持、信任中圖儀器的朋友表示由衷的謝意。寅虎辭舊歲，金兔迎新春！中圖儀器作為國內幾何量儀器企業，深耕精密尺寸測量領域十數載，堅持技術創新，追求以實現客戶價值為導向的進步，努力成為一家全球有重要影響力的儀器公司。20...
中圖儀器攜手深圳職業技術學院，共同培養集成電路創新型技術人才
2022-11-21 近日，深圳職業技術學院電子與通信工程學院（集成電路學院）院長宋榮一行來訪中圖儀器交流，馬俊杰董事長及有關領導全程陪同。董事長馬俊杰，集成電路學院宋榮院長分別介紹了雙方的基本概況，并就集成電路量測設備的研發成果和培養面向集成電路全產業鏈創新型技術技能人才，將集成電路設計工程學轉化為教學過程的問題，進行了友好交流與分享。交流期間，宋院長一行參觀了公司測試廳并重點了解我司集成電路量測設備，光學3D表面輪廓儀、VT6000共聚焦顯微鏡、臺階儀、顯微尺寸測量儀、影像測量儀等系列產品。宋...
暌違已久，華南激光展再相聚！
2022-11-15 11月15-17號，暌違已久的華南先進激光及加工應用技術展覽會將在深圳國際會展中心盛大舉行，中圖儀器將展出一系列自主研發、高水平的工業智能檢測與質量控制解決方案，廣泛服務于消費電子、半導體、集成電路、新能源、醫療等行業客戶。華南先進激光及加工應用技術展覽會時間：2022年11月15-17日地點：深圳國際會展中心（寶安）展位：6號館6H17展品搶“鮮”看輪廓尺寸測量方案中圖儀器展出多款輪廓尺寸測量儀器，可快速精準測量各類工件二維尺寸、高度尺寸、平面度等參數。位置與運動精度測量方...
關于無線球桿儀你有什么需要了解的
2022-09-28 無線球桿儀采用高精度可伸縮式結構及線性位移傳感器，兩端分別有一個精密球。在使用中，精密球以機械定位的方式吸附在兩個精密磁力碗座上，其中一個磁力碗座連接至機床工作臺上，另一個連接到機床主軸或主軸箱上。當機床按照預設定的圓軌跡運行時，可精確測量機床的真實圓軌跡并實時顯示出圓半徑值，然后將測量值與設定軌跡進行比較，即可對機床性能做出評估。理論上，位置性能的機床，其圓軌跡應該與設定的圓軌跡相貼合。具有操作簡單、攜帶方便的特點，其工作原理是將球桿儀的兩端分別安裝在機床的主軸與工作臺上(...
白光干涉儀自身帶來了怎樣的優勢呢？
2022-09-22 白光干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。白光干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就...

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