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SuperViewW快速聚焦光學三維3D輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸.

SJ5800表面粗糙度輪廓度一體測量儀超高直線度研磨級摩擦導軌、特殊紅寶石轉軸系統提供轉動的超高靈敏度及測量精度。分辨率高達到0.1nm，系統殘差小于3nm，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。

SuperViewW光學3D表面形貌儀廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器螺紋輪廓測量儀可實現X、Z雙軸聯動掃描，測量時測針在工件表面做仿形運動掃描（主動掃描），既保持了恒測力，又保證了大的陡坡通過能力，工件調平操作簡單，同時避免了崩針、掛針等問題。可以全量程大范圍連續掃描，擁有長達數百毫米的持續爬坡能力，非常適合大范圍陡坡表面測量，大工件無需翻轉、傾斜調整，就可實現輕松測量。

SJ5800工件輪廓圓度接觸式測量儀可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現一次掃描測量，尤其是大范圍曲面、斜面進行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測，如圓弧面和球面、異型曲面進行多種粗糙度參數（如Ra、Rz等）、微觀輪廓度Pt、波紋度參數的測量。

SuperViewW材料表面光學三維形貌儀也叫白光干涉儀、光學3D表面輪廓儀。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。